머리카락 10만분의 1 굵기 ‘나노선’도 한 눈에 본다

2016.12.06 20:00

 

김영헌 책임연구원이 투과전자현미경을 이용해 나노선을 관찰하고 있다. - 표준연 제공
김영헌 책임연구원이 투과전자현미경을 이용해 나노선을 관찰하고 있다. - 표준연 제공

김영헌 한국표준과학연구원 첨단측정장비센터 책임연구원팀은 투과전자현미경을 이용해 ‘나노선(nano wire)’의 특성 변화를 측정하는 기술을 개발했다고 6일 밝혔다. 고효율 반도체 등 차세대 전자기기 연구에 보탬이 될 것으로 기대된다.

 

나노선은 지름이 나노미터(nm, 1nm는 10억 분의 1m) 수준의 가느다란 선으로 반도체, 트랜지스터, 발광다이오드(LED) 등 다양한 전자기기 회로를 구성하는데 쓸 수 있다. 하지만 기존 측정 기술로는 나노미터 단위 물질의 기계적, 전기적 특성 변화를 측정하기 어려워 기술 개발에 한계가 있다.

 

연구팀은 물질을 원자 단위로 정밀하게 살펴볼 수 있는 ‘투과전자현미경(TEM)’과 이온빔 및 전자빔 기술을 활용해 단일 나노선의 구조 변화를 확인하고, 이 물질의 기계적, 전기적 특성 변화를 측정할 수 있는 기술을 새롭게 개발했다. 연구팀은 이를 통해 반도체 물질인 ‘인듐 알세이드 포스파이드(InAsP)’로 만든 나노선의 특성을 실시간으로 측정하는 데 성공했다.

 

김 연구원은 “단일한 나노물질을 측정하는 방법을 개발할 예정”이라며 “나노물질 신뢰성을 높여 산업적 활용에 도움이 될 것”이라고 말했다.

 

이 연구결과는 국제학술지 ‘나노 레터스(Nano Letters)’ 11월 9일자에 실렸다.

 

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