첨단 주사전자현미경 국산화 길 '활짝'

2007.01.26 10:58
과학기술부가 지원하는 첨단연구분석장비의 개발 사업이 결실을 맺었다. 한국표준과학원은 24일 물체의 미세구조를 관찰하고 정밀측정을 하는 고분해능 주사전자현미경(Scanning Electron Microscope)이 국내 기술로 개발됐다고 발표했다. 이번에 개발된 주사전자현미경은 3.5나노미터 떨어진 두 점 사이를 식별할 수 있을 만큼 정밀하다. 또 필라멘트를 조정해 더 선명하고 깨끗한 이미지를 얻어낼 수 있다. 이 현미경은 먼저 관찰하고자 하는 물체에 전자빔을 쏜 뒤 물체에서 2차 전자와 함께 형광선, x선 등이 함께 튀어나오는 원리를 이용했다. 이 때 적절한 압력을 걸어 원하는 2차 전자만 읽어내는 ‘주사’를 통해 미세구조나 구성원소의 분포 등을 관찰한다. 주사전자현미경의 원리를 응용하면 다양한 관련 장비를 국산 기술로 개발할 수 있다. 주사전자 현미경과 함께 개발한 ‘생물용 저진공 전자현미경’은 저진공 상태에서 후방산란전자를 읽어내 기존의 고진공 방식으로 관찰할 때 생물체에 손상이 생기는 문제를 최소화했다. 이번 연구를 이끈 조양구 박사는 “앞으로 물속에 있는 물체도 주사하는 현미경을 개발할 계획”이라며 “물속을 헤엄치는 아메바도 볼 수 있을 것”이라 말했다. 조 박사는 “기능을 보완해 올해 5월쯤 1차 양산을 계획하고 있다”며 “외국산의 절반가격으로 더 성능이 좋은 현미경의 보급하게 돼 과학교육과 연구에 많은 도움이 될 것으로 기대한다”고 덧붙였다.

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